我有科研輔助係統！
眾人回到控製室，羅陽坐到其中一台電腦前，說道
“測你們這種薄膜樣品，x射線要以近乎水平的角度射到矽片的邊緣。
需要保證每次測試時，剛好有一半的x射線被矽片擋住，另一半x射線則照射到樣品表麵，與樣品發生作用，產生衍射信號，最終被信號收集器收集。
為了防止信號收集器射線直接照射，要在它的前麵放置一枚鉛製硬幣，用來吸收絕大部分的x光。
現在我們來進行調試。”
羅陽一邊用編程語言控製測試艙內的儀器，一邊介紹
“調試過程就隻是給你們講一下，不懂的話也不影響你們測試。
第一步，我們先把樣品台在垂直方向，也就是z方向上，向靠近地麵的方向移動，使樣品完全沒有擋住x射線。
此時，檢測器上的信號強度是幾乎恒定的，也是它的最大值，這個極值需要記錄下來。
第二步，將樣品台緩緩上升，直到檢測器上的信號強度開始降低，這就表明樣品開始擋住x射線了。
第三步，讓樣品台的z坐標，在一個較小的範圍內線性變化，在此期間對信號強度進行掃描，得到信號強度隨z坐標變化的曲線。
找到信號強度為最大強度的一半左右時對應的z坐標，並將樣品台移動到此z坐標處。
這個時候，對應的就是有一半的x射線被樣品擋住的狀態。
第四步，我們需要標定樣品台的旋轉角度，因為我們並不知道入射的x光是否是完全平行於樣品表麵的。
讓樣品台的旋轉角θ，在一個較小的角度範圍內變化，在此期間對信號強度進行掃描，得到信號強度隨θ變化的曲線。
找到信號強度最大時對應的θ坐標，將樣品台的旋轉到這個角度，此時x光就是平行射到樣品側麵的。
將此時的旋轉角手動設為0度，因為我們旋轉了樣品台，所以入射x光不再是被樣品擋住一半的狀態了。
因此需要重複第三步、第四步。
直至第四步樣品信號最高值處，對應的旋轉角為0度為止。
就像現在這樣，我們就完成了調試。”
“調試完成後，設置好入射角度就可以測試了，你們的入射角一般多少度？”羅陽向陳婉清問道。
“012度吧。”陳婉清道。
羅陽在電腦中敲了一段代碼
uvthita012；
按下回車，然後道
“設置好了，你們每次換了樣品後，都要看一下檢測器上的信號強度是不是接近最大值的一半。
如果偏離過大，就需要重新切光，也就是重複第三步和第四步。
切好光後，再把入射角改到012度。”
“這幾步的操作都可以在這本用戶手冊中找到，裡麵有個測試登記表記得要填一下。”羅陽將手冊遞給陳婉清，說道
“我在上麵給你們留了電話，有事給我打電話，要是提前測完要離開的話，就去總控把光關掉，然後給我發個短信就好。
之後的測試用軟件就可以操作了，不用我再教一遍了吧。”
“不用教了，軟件我會用的。”陳婉清道。
……
羅陽走後，陳婉清開心道“這次調試算比較快了，隻花了一個多小時。”
“是啊，感覺羅陽對儀器還是比較懂的，應該是這邊的老師吧，”許秋看了眼時間，說道“都快晚上十一點了。”